? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Орешкин Г.И.

Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))