Воскресенье, 25 Августа 2019 г.

ЦКП принял участие в SPM-2019

СОТРУДНИКИ ЦКП ПРИНЯЛИ УЧАСТИЕ В МЕЖДУНАРОДНОЙ КОНФЕРЕНЦИИ «SCANNING PROBE MICROSCOPY(SPM-2019)»

Сотрудники ЦКП приняли участие в международной конференции «Scanning Probe Microscopy (SPM-2019)», проходившей в Екатеринбурге на базе Уральского Федерального университета с 25 по 28 августа 2019 г., с темой «Mapping charge carrier mobility at nanoscale». Тезисы подготовили А. Алексеев, С. Харинцев и A. Едриссов. Научные исследования были проведены в сотрудничестве с Казанским федеральным университетом, а также с Карагандинским государственным университетом и Назарбаев Университетом из Казахстана.

Работа посвящена исследованию структуры полупроводникового полимера PTB7, используемого для изготовления солнечных элементов. Использовался метод измерения тока с ограниченным пространственным зарядом, который выполняется на тонких полупроводниковых пленках с плоскими электродами с использованием C-АFM (conductive – atomic force microscopy) и последующего количественного определения подвижности дырок в наномасштабах. Было показано, что наноразмерное распределение тока является неоднородным и может быть связано с существованием кристаллитов в полимере.

Фотография постера с конференции SPM-2019



Сертификат об участии в конференции

Работа выполнена в рамках проекта по Соглашению № 14.575.21.0149 (RFMEFI57517X0149).

Вернуться в Архив новостей