в начало  предыдущее  закрыть  следущее  в конец
Главная страница / Услуги / Анализ материалов и структур

Анализ материалов и структур

Основные направления исследований: анализ образцов нано- и микросистемной техники и наноэлектроники (материалов, тестовых структур, изделий на различной стадии готовности).

Проводится комплексное решение проблем при диагностике новых материалов, технологических процессов и калибровки методик пооперационного контроля в производстве.

Особое внимание следует уделить возможности проведения элементного и химического трехмерного качественного и количественного анализа с нанометровым разрешением по трем осям.

первое_на сайт

первое 2_на сайт

Измерение линейных размеров

линейные размеры_на сайт


Поперечное сечение
микросхемы памяти

Увеличенное изображение
подзатворной области транзистора 

Исследования элементного состава

Элементный состав_на сайт

• Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis c корректором сферической аберрации. Ускоряющее напряжение: 200 кВ.
Разрешение: 0,09 нм.

Распределение элементов 
в микросхеме памяти

Поперечное сечение 
микросхемы памяти


Исследования морфологии поверхности

морфология_на сайт

Исследование магнитных характеристик

магнитные измерения_на сайт


Исследования структуры

структура_на сайт


Атомарная структура карбида бора в углеситалле


Исследование оптических характеристик

эллипсометрия на сайт

Модификация поверхности

фиб на сайт 1

Специализированные исследования

В случае заинтересованности в проведении аналитических исследований, Вы можете оставить заявку.


Метки: исследование магнитных характеристик, исследование элементного состава, исследования морфологии поверхности, исследования структуры, наноэлектроника.