2017 г.

Исследование температурных зависимостей коэффициента термоЭДС и электропроводности тонких пленок материала фазовой памяти GeSbTe

Автор(ы): Терехов Д.Ю. , Лазаренко П.И. , Шерченков А.А. , Штерн Ю.И. , Козюхин С.А. , Филатов С.А., Бабич А.В., Пепеляев Д.В., Преснухина А.А.
Опубликовано: Изв. вузов. Электроника 2017. – Т. 22. – № 6. – С. 518-527.
Импакт-фактор: 10.214151/1561-5405-2017-22-6-518-527
Статус: ВАК, РИНЦ