Оптический микроскоп Nikon ECLIPSE L200N

Микроскоп предназначен для изучения и контроля качества различных объектов (биологических структур, МЭМС, интегральных микросхем и др.).

Возможности:

·         Качественный анализ поверхности.

·         Качественный анализ элементов структуры прозрачных объектов.

·         Измерение линейных размеров.

·         Оценка перепада высот.

Проведение наблюдения при эпископическом и диаскопическом освещении (отраженный и проходящий свет), в режимах светлого поля и темного поля, простой поляризации, эпифлуоресценции, дифференциально-интерференционного контраста.

Технические характеристики:

·      Объективы серии CFI, свободные от хроматических аберраций.

·      Объективы 5x, 10x, 20x, 50x, 100x, 150x (область измерения от 2.3х1.7см до 125х90 мкм).

·      Цифровая камера 5 Мп.

·      Шаг фокусировки 1 мкм.