Россия, 124527, г. Москва, г. Зеленоград, Солнечная аллея, д.6
8 (499) 720-69-07 
info@ckp-miet.ru
Пн-Пт с 9:00 до 18:00
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)
Сотрудники ЦКП МИЭТ
Дирекция ЦКП
Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ)
НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Ученая степень: кандидат физико-математических наук
Россия, 124527, г. Москва, г. Зеленоград, Солнечная аллея, д.6
