? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Сотрудники ЦКП МИЭТ


Дирекция ЦКП

Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ)

НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Алексеев А.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)),
СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Медведев Б.К.
Ведущий инженер (Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ)),
Начальник лаборатории (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Митько С.В.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Ожерельева М.В.
Техник (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Орешкин Г.И.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Трифонов А.Ю.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))