? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Сотрудники ЦКП МИЭТ


Дирекция ЦКП

Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ)

НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Алексеев А.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Ученая степень: кандидат физико-математических наук
Борисова А.В.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Митько С.В.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Сальников А.А.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Трифонов А.Ю.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Ученая степень: кандидат физико-математических наук