Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)
Мигунов Д.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)), СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Статьи
- Atomic Force Microscopy Study of Cross-Sections of Perovskite Layers, 2019 г.
Eurasian Chemico-Technological Journal. – 2019. – Vol. 21. – P. 83-87
- Fabrication and Study of Parameters and Properties of Nanostructured Membranes for MEMS Devices, 2017 г.
Nanotechnologies in Russia – 2017. – Vol. 12. – No. 7–8. – P. 414–425
- Structural properties of the formation of zinc-containing nanoparticles obtained by ion implantation in Si (001) and subsequent thermal annealing, 2017 г.
Modern Electronic Materials – 2017. – Vol. 3 – P. 104–109