? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Мигунов Д.М.

Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)), СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))





Статьи

  1. Atomic Force Microscopy Study of Cross-Sections of Perovskite Layers, 2019 г.

    Eurasian Chemico-Technological Journal. – 2019. – Vol. 21. – P. 83-87

  2. Fabrication and Study of Parameters and Properties of Nanostructured Membranes for MEMS Devices, 2017 г.

    Nanotechnologies in Russia – 2017. – Vol. 12. – No. 7–8. – P. 414–425

  3. Structural properties of the formation of zinc-containing nanoparticles obtained by ion implantation in Si (001) and subsequent thermal annealing, 2017 г.

    Modern Electronic Materials – 2017. – Vol. 3 – P. 104–109