2018 г.

Анализ ферромагнитных пленок с помощью системы исследования магнитооптического эффекта Керра и спектрального эллипсометра

Автор(ы): Дедкова А.А., Киреев В.Ю., Мазуркин Н.С.
Опубликовано: "Нано- и микросистемная техника" Том 20, №9, 2018 г.
Статус: Web of Science, ВАК, РИНЦ