2019 г.

Исследования островковых пленок нитрида галлия на сапфировых подложках методами растровой электронной микроскопии и спектральной эллипсометрии

Автор(ы): Дедкова А.А., Киреев В.Ю., Митько С.В., М. О. Никифоров
Опубликовано: Российские нанотехнологии 2019. – Том 14, № 3-4. – С. 93-100
DOI: 10.21517/1992-7223-2019-3-4-93-100
Статус: ВАК, РИНЦ