2020 г.

Анализ рельефа кремниевых пластин методами геоморфометрии / Analysis of topography of silicon wafers by geomorphometric methods

Автор(ы): Дедкова А.А., Флоринский И.В.
Опубликовано: Интеллектуализация обработки информации: Тезисы докладов 13-й Международной конференции, г. Москва, 2020, М.: Российская академия наук, 2020 – 2020. – С. 244-245.
DOI: 10.13140/RG.2.2.33945.03685

Скачать

Имя файла: 01_Geomorfometriya.pdf
Размер файла: 323.67 KB
Дата изменения: 26.09.2021 Воскресенье 18:12:12
Тип файла: PDF

 

Размер файла: 323.67 KB