2020 г.

Contact Resistance Measurements for the Ge2Sb2Te5 thin films

Автор(ы): Дедкова А.А., Якубов А., Шерченков А., Лазаренко П., Бабич А., Терехов Д.
Опубликовано: Chalcogenide Letters 2020. – V. 17, No. 1. – P. 1-8.
Статус: Scopus, Web of Science, Ядро Web of Science