? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Алексеев А.М.

Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Ученая степень: кандидат физико-математических наук



Родился в 1971 году.

1998 год - аспирантура МИЭТ и защита кандидатской диссертации по теории колебаний доменных границ в ферримагнетиках.

с 1999 по 2012 гг. - работа в компании-производителе атомно-силовых микроскопов ЗАО НТ-МДТ (Россия, Москва).

с 2002 по 2011 гг. - работа в лаборатории зондовой микроскопии на химическом факультете университета г. Эйндховен (Нидерланды).

2011-2013 гг. - научный сотрудник группы Р. Стампса (университет г. Глазго, Великобритания).

Алексеев А.М. является автором и соавтором более 15 статей по тематике микромагнитного моделирования, нанофотоники и магнитно-силовой микроскопии, из них 7 в журналах первого квартиля, а также соавтор патента по методам магнитных измерений.

Признанный специалист в области оптики, зондовой микроскопии и магнетизма. 

Scopus AuthorID: 55286055800
ResearcherID: A-8526-2012
ORCID: 0000-0002-2800-6047
  




Статьи

  1. Global and local conductivity in percolating crosslinked carbon black/epoxy–amine composites, 2020 г.

    Journal of Materials Science 2020. – Vol. 55. – P. 8930-8939.

  2. A metamaterial based on titanium nitride nanoantennas for efficient absorption of solar energy in flexible solar cells combined with thermoelectric generator, 2019 г.

    5th International Conference on Advanced Energy Materials-2019. Guildford, United Kingdom. Abstract book _

  3. Atomic Force Microscopy Study of Cross-Sections of Perovskite Layers, 2019 г.

    Eurasian Chemico-Technological Journal. – 2019. – Vol. 21. – P. 83-87

  4. Mapping charge carrier mobility at nanoscale, 2019 г.

    Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019) 2019. – С. 126.

  5. Mapping hole mobility in PTB7 films at nanoscale, 2019 г.

    IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering 2019. – Is. 699. – P. 012001.

  6. Stimulated Raman Scattering in Metal-Dielectric Nanocomposites with Spectrally Degenerate Dielectric Constant, 2019 г.

    JETP Letters 2019. – V. 110, No. 12.– Р. 766-770.

  7. Superresolution Stimulated Raman Scattering Microscopy Using 2-ENZ Nano-Composites, 2019 г.

    Nanoscale 2019. – Is. 11. – P. 7710-7719

  8. Вынужденное комбинационное рассеяние света в нанокомпозитах металл–диэлектрик со спектрально вырожденной диэлектрической проницаемостью, 2019 г.

    Письма в ЖЭТФ Том 110, вып. 12. – С. 772-776.

  9. Использование метаматериала Ti и TiON для эффективного поглощения солнечной энергии в гибких солнечных элементах, комбинированных с термоэлектрическим преобразователем, 2019 г.

    Международный форум "Микроэлектроника-2019". 5-я Международная научная конференция «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули» 2019. – С. 399-401.

  10. Combined Ultramicrotomy and Atomic Force Microscopy Study of the Structure of a Bulk Heterojunction in Polymer Solar Cells, 2018 г.

    Semiconductors – 2018. – Vol. 52 – No. 1 – P. 105– 111. Россия

  11. Nonlinear Raman Effects Enchanced by Surface Plasmon Exitation in Planar Refractory Nanoantennas, 2017 г.

    Nano Letters – 2017. – Vol. 17. – No. 9. – P. 5533–5539.

  12. Исследование структуры объемного гетероперехода в полимерных солнечных элементах с помощью комбинации ультрамикротомирования и атомно-силовой микроскопии, 2017 г.

    Физика и техника полупроводников – 2018. – Т. 52. – Вып. 1. – С. 110–117.