? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Алексеев А.М.

Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Ученая степень: кандидат физико-математических наук





Статьи

  1. Combined Ultramicrotomy and Atomic Force Microscopy Study of the Structure of a Bulk Heterojunction in Polymer Solar Cells, 2018 г.

    Semiconductors – 2018. – Vol. 52 – No. 1 – P. 105– 111. Россия

  2. Исследование структуры объемного гетероперехода в полимерных солнечных элементах с помощью комбинации ультрамикротомирования и атомно-силовой микроскопии, 2017 г.

    Физика и техника полупроводников – 2018. – Т. 52. – Вып. 1. – С. 110–117.

  3. Nonlinear Raman Effects Enchanced by Surface Plasmon Exitation in Planar Refractory Nanoantennas, 2017 г.

    Nano Letters – 2017. – Vol. 17. – No. 9. – P. 5533–5539.