в начало  предыдущее  закрыть  следущее  в конец
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Алексеев А.М.

Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)), СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))





Статьи

  1. Combined Ultramicrotomy and Atomic Force Microscopy Study of the Structure of a Bulk Heterojunction in Polymer Solar Cells, 2018 г.

    Semiconductors Россия

  2. Combined Ultramicrotomy and Atomic Force Microscopy Study of the Structure of a Bulk Heterojunction in Polymer Solar Cells, 2018 г.

    Semiconductors – 2018. – Vol. 52 – No. 1 – P. 105– 111.

  3. Исследование структуры объемного гетероперехода в полимерных солнечных элементах с помощью комбинации ультрамикротомирования и атомно-силовой микроскопии, 2018 г.

    Физика и техника полупроводников – 2018. – Т. 52. – Вып. 1. – С. 110–117.

  4. Nonlinear Raman Effects Enchanced by Surface Plasmon Exitation in Planar Refractory Nanoantennas, 2017 г.

    Nano Letters – 2017. – Vol. 17. – No. 9. – P. 5533–5539.