? ??????  ??????????  ???????  ????????  ? ?????
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Борисова А.В.

Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))





Статьи

  1. The Effect of Ion Beam Etching on Mechanical Strength Multilayer Aluminum Membranes., 2019 г.

    Proceedings of the 2019 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2019. – 2019. – С. 1990-1994