Митько С.В.

Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Статьи

1. Анализ эмиссии электронов с одиночного кремниевого катода в квазивакуумную (воздушную) среду на различном наномасштабе методом , 2020 г.

   Труды XXIV Международного симпозиума "Нанофизика и наноэлектроника"-2020 2020. – Том 1. – С.354-355.

2. Atomic force microscopy study of field emission from a single silicon nanotip into a quasi-vacuum (air) medium at the nanoscale, 2019 г.

   5th International Conference on Advanced Energy Materials-2019. Guildford, United Kingdom. Abstract book _

3. Investigation of Gallium Nitride Island Films on Sapphire Substrates via Scanning Electron Microscopy and Spectral Ellipsometry, 2019 г.

   Nanotechnologies in Russia 2019. – V. 14, Nos. 3-4. – P. 176-183.

4. Исследования островковых пленок нитрида галлия на сапфировых подложках методами растровой электронной микроскопии и спектральной эллипсометрии, 2019 г.

   Российские нанотехнологии 2019. – Том 14, № 3-4. – С. 93-100